TBB Global Technology Co., Ltd. es el distribuidor exclusivo de microscopios Olympus en Vietnam, y nos complace ofrecer microscopios GX53 genuinos y de calidad.
ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002
ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002
ISO 945-1: 2010, ISO 16112: 2017, JIS G 5502: 2001, JIS G 5505: 2013, ASTM A247: 16a, ASTM E2567: 16a, NF A04-197: 2004, GB/T 9441: 2009, KS D 4302: 2006
ISO 4967 (método A): 2013, JIS G 0555 (método A): 2003, ASTM E45 (método A): 2013, EN 10247 (métodos P y M): 2007, DIN 50602 (método M): 1985, GB/T 10561 (método A): 2005, UNI 3244 (método M): 1980
ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2004, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, ISO 4505: 1978, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998
EN 1071: 2002, VDI 3824: 2001
GX-SLM
Deslizador de escala, admite hasta 3 escalas de vidrio
GX51-SLMG5
Vidrio de escala para objetivo de 5×, longitud de escala: 200 μm
GX51-SLMG10
Vidrio de escala para objetivo de 10×, longitud de escala: 100 μm
GX51-SLMG20
Vidrio de escala para objetivo de 20×, longitud de escala: 50 μm
GX51-SLMG50
Vidrio de escala para objetivo de 50×, longitud de escala: 10 μm
GX51-SLMG100
Vidrio de escala para objetivo de 100×, longitud de escala: 10 μm
GX51-SLMGS
Escala de tamaño de grano, aplicada a JIS G 0551, ISO 643 y ASTM E112 AUSTENITE GRAINS IN STEEL PLATE IV No.1 to 8
GX51-SLMGH
Patrón de rejilla, aplicado a JIS G 0555
GX-SLMG
Vidrio parfocal para ajustar la longitud del camino de luz
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